PCT高壓加速壽命試驗(yàn)機(jī) 參考價(jià)：面議
PCT高壓加速壽命試驗(yàn)機(jī)是用于測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，多層線路板,光...
PCT高壓加速老化試驗(yàn)機(jī) 參考價(jià)：面議
PCT高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)是用于測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，多層線路板,光...
高壓蒸汽老化試驗(yàn)箱 參考價(jià)：面議
高壓蒸汽老化試驗(yàn)箱是用于測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，多層線路板,光伏組件...
高壓加速老化試驗(yàn)箱生產(chǎn)廠家 參考價(jià)：面議
高壓加速老化試驗(yàn)箱生產(chǎn)廠家是用于測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，多層線路板,...
PCT高壓加速壽命試驗(yàn)機(jī)生產(chǎn)廠家 參考價(jià)：面議
PCT高壓加速壽命試驗(yàn)機(jī)生產(chǎn)廠家是用于測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，多層線...
PCT高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)生產(chǎn)廠家 參考價(jià)：面議
PCT高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)生產(chǎn)廠家是用于測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，多層線...
高壓蒸汽老化試驗(yàn)箱生產(chǎn)廠家 參考價(jià)：面議
高壓蒸汽老化試驗(yàn)箱生產(chǎn)廠家是用于測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，多層線路板,...
高壓加速老化試驗(yàn)箱品牌 參考價(jià)：面議
高壓加速老化試驗(yàn)箱品牌是用于測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，多層線路板,光伏...
PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱品牌 參考價(jià)：面議
PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱品牌是用于測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，多層線路板...
HAST非飽和型高壓加速試驗(yàn)箱生產(chǎn)廠家 參考價(jià)：面議
HAST非飽和型高壓加速試驗(yàn)箱生產(chǎn)廠家是用于測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，...
PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱生產(chǎn)廠家 參考價(jià)：面議
PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱生產(chǎn)廠家是用于測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，多層線...
高壓加速老化試驗(yàn)箱 參考價(jià)：面議
高壓加速老化試驗(yàn)箱是用于測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，多層線路板,光伏組件...
PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱 參考價(jià)：面議
PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱是用于測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，多層線路板,光...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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